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Collection:
Pédagogique d'automatique
Publisher: HERMES
Co-Publisher: Éditions Lavoisier
Pages: 160
Format: Livre broché, 160mm × 240mm
ISBN : 978-2-7462-0133-0
Printed in:
French
Publication date: 20/06/2000
Cet ouvrage permet au lecteur une première approche des méthodes les plus classiques utilisées pour la détection-localisation de défauts sur un processus (défauts de capteurs, d'actionneurs, voire du processus lui-même. Il s'adresse également aux enseignants souhaitant mettre en place une formation dans ce domaine et aux ingénieurs chargés du suivi de production de processus continus.